L’evento BEiN è indirizzato a Neuroradiologi e Radiologi, che quotidianamente si confrontano con pazienti con patologie del Sistema Nervoso (SN) sia Centrale che Periferico. Il corso si propone come obiettivo di fornire gli elementi per un corretto iter diagnostico, sia per la scelta della tecnica di indagine più appropriata a seconda delle varie patologie, sia per la definizione della semeiotica neuroradiologica, f inalizzata alla diagnosi. La giornata si articolerà in 5 sessioni che riguarderanno le principali patologie del distretto cranico encefalico e vertebro midollare. Il corso si articola sulla presentazione di casi clinico – radiologici in modo da coinvolgere maggiormente i partecipanti al convegno; questi, infatti, verranno invitati dagli esperti del settore a partecipare attivamente alla programmazione dell’iter diagnostico e alla verifica degli elementi semeiologici necessari per orientare il giudizio diagnostico.

MODALITÀ DI ISCRIZIONE
L’iscrizione è gratuita e a numero chiuso.
Per iscriversi cliccare sul “Modulo di iscrizione” a lato e seguire le istruzioni. La Segreteria avrà cura di dare conferma dell’iscrizione.

QUESTIONARIO SCIENTIFICO
A conclusione del corso, e sino al 1 giugno 2026, il partecipante potrà compilare online il test di valutazione dell’apprendimento per l’acquisizione dei crediti ECM (nel rispetto dei vincoli AGENAS). Si specifica che per il test ECM sarà consentito un solo tentativo di superamento della prova.

ATTESTATO DI PARTECIPAZIONE
A conclusione del corso sarà possibile scaricare l’attestato di partecipazione direttamente dalla piattaforma ECM: www.morefad.it